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產品資料

Hamamatsu濱松光子學膜厚測量系統[產品打印頁面]

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: Hamamatsu濱松光子學膜厚測量系統
產品型號: C11295
產品展商: 日本Hamamatsu濱松光子學
產品價格: 0.00 元
折扣價格: 0.00 元
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簡單介紹

Multipoint NanoGauge 膜厚測量系統 C11295 是一種利用光譜干涉法的薄膜膜厚測量系統。作為半導體制造過程的一部分,它旨在測量薄膜厚度,以及用于對安裝在半導體制造設備上的 APC 和薄膜進行質量控制。允許實時進行多通道測量,可在薄膜表面同時進行多通道測量和多點測量。同時,它還可以測量反射率(透射率)、物體色及其隨時間的變化。


Hamamatsu濱松光子學膜厚測量系統  的詳細介紹
型號 C11295-XX*1
可測量的薄膜厚度范圍(玻璃) 20 nm 至 100 μm*2
測量重現性(玻璃) 0.02 nm*3 *4
測量精度(玻璃) ±0.4%*4 *5
光源 氙光源 *6
測量波長 320 nm 至 1000 nm
光斑尺寸 約 φ1 mm*4
工作距離 10 mm*4
可測量層數 *多 10 層
分析 FFT 分析、擬合分析
測量時間 19 ms/point*7
光纖連接器形狀 SMA
測量點數 2 至 15
外部控制功能 以太網
接口 USB 2.0(主機 - 計算機)
RS-232C(光源 - 計算機)
電源 AC100 V 至 AC240 V,50 Hz/60 Hz
功耗 2 通道時:大約 350 VA,15 通道時:約 500 VA

濱松光子學株式會社總部位于靜岡縣濱松市,是一家主要產品包括光電倍增管、光學半導體器件以及圖像處理和測量設備的制造商。靜岡縣內有七個生產基地,其中包括位于濱松市的總工廠。
1948年成立時名為東海電子研究所,1953年成立濱松電視株式會社,開始生產將光轉換為電信號并檢測電信號的光電管。1983年,公司名稱變更為濱松光子學株式會社,并于1998年3月在東京證券交易所**部上市,至今仍在那里。
公司業務大致分為電子管業務、固態業務、系統業務、激光業務四大類。所有這些公司主要開發、制造和銷售“發光”、“捕獲光”和“測量光”的產品。具體產品包括光電二極管等光學傳感器、LED 等光源以及配備 CMOS 和 CCD 的高性能相機。特別是在光傳感器領域,光電倍增管自公司成立以來一直是代表產品,并為獲得諾貝爾物理學獎做出了貢獻,多年來不斷發展,目前在全球市場占有率高達約90%。此外,光半導體器件、測量設備等種類繁多的產品被廣泛應用于醫學、工業、分析、測量、學術界等領域,被世界各地的制造商和研究機構所使用,正在全球擴張,海外市場約占其銷售額的70%。

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